测量

探究事物，揭示事物的本质，直抵事物的核心——这种执着的追求推动科学、研究和技术的持续发展。多年来，蔡司的X射线技术帮助客户探究事物的本质。在质量和过程控制方面，X射线技术能够无损检测敏锐的眼睛也无法看到的内容。从亚微米尺度的成像到大型部件的扫描，从高精度测量到快速检测，蔡司X射线系列产品为每一种应用提供理想的解决方案。不仅产品组合的范围在市场上优势显著，蔡司的整体方案更是别具匠心：计算机断层扫描、2D射线透视和X射线显微镜系统等各种系统任客户选择，由各种软件解决方案、多种服务和附件组成的丰富产品组合为客户实现进一步的附加值。凭借强大的实力，蔡司可为客户的应用定制全面的解决方案。

12年来，ZEISS METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统ZEISS METROTOM 1500更是证明先进、可靠的X射线技术不再可望而不可及。3K探测器实现了更高的分辨率和更快的扫描，连同蔡司坐标测量技术为可信度提供了强有力的保障（图1）。除此之外，得益于更高效的空间利用，机器的量程范围更广，占用空间更小。因此，第三代CT系统可在减少空间占用的同时实现更佳的性能表现。

对于众多潜在客户而言，工业CT系统看似仍是来自遥远未来的高科技产品。在CT系统的开发过程中，蔡司融合了坐标测量领域的成熟技术及多年丰富的经验。例如蔡司接触式坐标测量机通过计算机辅助精度修正（CAA）技术确保定位系统的高精准度。ZEISS METROTOM依据VDI/VDE 2630 1.3标准，可确保客户始终对3D数据集执行高精度、可重复地测量——这使得蔡司成为首家为CT系统提供该功能的制造商。12年后，蔡司又推出了面向整体零件无损扫描的第三代ZEISS METROTOM 1500，进一步提升了其先进CT技术（图2）。

图1 ZEISS METROTOM 1500借助于全新3K检测器，即便是细微的细节，也能够以更高的分辨率及清晰度呈现

借助于全新3K探测器更细致更快速

蔡司工业质量解决方案产品经理Jens Hansen博士说：“客户对测量的要求不断提高，这不仅仅表现在待测工件的尺寸精度方面，还包括分析的分辨率和速度。”第三代ZEISS METROTOM 1500上的全新探测器实现了3072像素×3072像素的高分辨率，客户可以借此生成分辨率更高，即更多体素的3D体数据集。

无论是数模比对或实际值比对，还是壁厚分析、缺陷或装配控制，或是尺寸测量，各种分析都能够从中获益。如果客户关注于速度，则可以使用多步“像素合并”，将多个像素合并到一个像素矩阵中。这样一来，相较上一代产品，探测器的读取速度变得更快。这种速度的提升对客户而言是重大利好，特别是在定期检测金属零件是否存在缩孔或裂纹时。ZEISS METROTOM 1500甚至只通过一次X射线扫描即可无损完成复杂的测量及检测任务。借助于测量软件ZEISS CALYPSO和NEO insights，客户可以方便地评估扫描数据，并与CAD数据进行比对。由于编程原理与接触式测量一致，有经验的ZEISS CALYPSO客户经过简单的培训就可以对CT数据进行高效的测量。ZEISS PiWeb中对于测量结果的操作也相似。

高效利用空间

无论是对于运输、安装，还是维护或客户实验室空间利用，设备都是越小越好。蔡司最大的工业CT系统的外壳设计旨在充分实现空间的高效利用。系统的宽度和高度降低，使安装空间减少了33%，目前仅占8.3 m2，系统体积更是减少至20.2 m3，降幅高达50%。尤为重要的一点是，量程范围并未因此而减小。恰恰相反，借助改进后的定位系统，现在可以在系统中放置高度达1.5 m的更大部件。新机型中的服务工位现在可设置在机器前方，因此可将系统放置于靠近墙壁的位置。此外，客户可以在天花板高度为2.5 m的房间安装新的CT系统，而非此前的3.5 m。

操作更舒适 更安全

在新一代机型中，工程师们还改进了ZEISS METROTOM 1500的上下料操作方式。使用人员可通过前门进入系统，方便地加载更大更重的工件。这样，客户即可轻松、安全、快捷地进行CT测量操作。

图2 蔡司又推出了面向整体零件无损扫描的第三代ZEISS METROTOM 1500，进一步提升了其先进CT技术

借助全新的ZEISS METROTOM 1500，可无损检测大零件内部，结合成熟的CT技术及更小的占地空间，提高效率及生产力。相较传统的测量方法，客户不仅节省了时间和成本，更获得了与传统测量结果相同或更高的可靠性——客户可信赖的先进测量技术。